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      400-698-3358

      En
      膜電極瑕疵檢測設備

      膜電極瑕疵檢測設備

      SEC-V5535-SDFC

      該設備用于膜電極的外觀(guān)瑕疵檢測及2D尺寸測量,詳情如下:

           邊 框 區:氣泡、劃傷、褶皺、波浪紋等(需具體評估)

           反 應 區:質(zhì)子膜穿孔/破損、催化劑層脫落等(需具體評估)

                            GDL破損、GDL斷裂等(需具體評估)

           尺寸測量:產(chǎn)品總長(cháng)寬尺寸測量、產(chǎn)品孔槽特征內徑尺寸測量等(需具體評估)

      該設備采用2個(gè)高清相機相機

      光柵尺觸發(fā)獲取圖像

      世椿自研檢測系統,重復精度±0.02mm,超大數據存儲容量


      主要工藝

      膜電極的外觀(guān)瑕疵檢測機的設計旨在開(kāi)發(fā)一款能夠對膜電極進(jìn)行高精度瑕疵檢測的設備,匹配五合一半成品膜電極檢測及七合一成品膜電極檢測等應用場(chǎng)景。設備采用高精度高清相機進(jìn)行掃描成像,世椿自研檢測系統。產(chǎn)品支持全自動(dòng)/半自動(dòng)/人工上下料。

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